石墨烯基系統(tǒng)邊緣的異常電子性質(zhì)，源自其電子波函數(shù)的偽自旋特征及其非平凡的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。表現(xiàn)在材料之字形狀邊緣明顯的零能電子態(tài)的出現(xiàn)，該電子態(tài)對(duì)這種系統(tǒng)中的層間傳輸具有重要作用。在這項(xiàng)工作中，我們利用獨(dú)特的實(shí)驗(yàn)裝置和電子輸運(yùn)計(jì)算來(lái)定量區(qū)分邊緣輸運(yùn)和散裝輸運(yùn)，這表明它們的相對(duì)貢獻(xiàn)在很大程度上取決于角度堆疊構(gòu)型和層間電勢(shì)。此外，我們發(fā)現(xiàn)，盡管邊緣狀態(tài)在接觸器圓周上很強(qiáng)地局部化，但即使存在邊緣紊亂，在不相稱的界面中的邊緣傳輸也可以控制高達(dá)2μm的接觸直徑。在本研究中揭示的邊緣和大量傳輸貢獻(xiàn)之間的復(fù)雜相互作用，可能會(huì)對(duì)納米扭曲石墨烯基電子產(chǎn)品的實(shí)際應(yīng)用產(chǎn)生深遠(yuǎn)的影響。
Fig. 1 石墨接觸中邊緣和體層間輸運(yùn)貢獻(xiàn)的實(shí)驗(yàn)測(cè)定。
Fig. 2 邊緣和大塊界面?zhèn)鲗?dǎo)的重構(gòu)與應(yīng)用的偏置電壓。
Fig. 3 計(jì)算界面透射率和波函數(shù)分布。
N%40MSG7%7DG)~9KX2%60%242(6S.png)
Fig. 4 計(jì)算界面透射率、電流、和邊緣到體積的交叉條件。
相關(guān)研究成果于2020年由以色列理工學(xué)院Elad Koren課題組，發(fā)表在Nature Communications(https://doi.org/10.1038/s41467-020-18597-0)上。原文：The scaling laws of edge vs. bulk interlayer conduction in mesoscale twisted graphitic interfaces。
轉(zhuǎn)自《石墨烯雜志》公眾號(hào)：
.jpg)
